X-MaxTEM大面积硅漂移探测器
产品介绍 Ultim Max TLE 我们TEM的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。 这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
Ultim Max TEM 用于纳米尺度分析和元素面分布的SDD能谱探测器。 在任何情况下,使用新型的中端80mm2传感器都能更接近样品,提供更多的X射线计数。结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
Xplore TEM 专门为120kV和200kV TEM的常规应用而设计的SDD能谱探测器。 使用新的 80 mm2传感器,聚合物薄窗口和低噪音电子元器件 , 提供快速和准确的元素表征。
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