MFP-3DTM标准型原子力显微镜

功能完善的高精度AFM/SPM

原子力显微镜是在纳米尺度上进行三维测试的理想工具。现在科学家们可以选择一款高灵敏度、高精度、低噪音并且带有非常科学的操作软件的原子力显微镜-MFP-3D-SA。MFP-3D-SA是物理，材料学，聚合物，化学，纳米刻蚀，生物科学以及定量纳米测试的理想选择。MFP-3D能够非常灵活的获取数据，分析数据并直接输出可出版的图片。MFP-3DTM真正放飞您的科研梦想

技术创新:

高精度的闭环定位系统实现了高分辨率的成像，并保证了成像的精度和可重复性

首创的全数字化控制器和开源的操作软件

内置众多先进模式：如实时3D图像构建，纳米刻蚀/操纵以及Dual ACTM模式-双共振谐波成像

**的灵活性和可扩展性设计，具有众多的环控附件和功能附件扩展性能，包括纳米压痕和高压压电响应显微镜（PFM）等。

业内优越的售后服务-五年全免费质保

MFP-3D头部

噪音低，消除光学干扰

带有传感器的光学杠杆仅受衍射的影响和低相干光源的采用真正消除了干涉的影响。NPSTM纳米传感器和Z轴定位系统精确定位探针的位置以进行精确力学测试和形貌测量

MFP-3D XY扫描器

不同于任何管式扫描器的精密度和准确度

MFP-3D采用了平板式的扫描器和具有专利的NPSTM传感器，能够准确测量每个扫描轴(X-Y)的精确位置。通过这种平板式扫描消除了电滞和蠕变，并能够通过鼠标点击实现图像的精确缩放和移动。

MFP-3D基座

三种可选配置用于样品的照明和观察

上视光路-观察不透明的样品

下视光路-观察透明样品

双光路-具有以上两种观察光路

全数字化ARC2控制器和开源的软件，MFP-3D整个系统都可以通过操作软件来进行控制，并且可随时通过软件的升级扩展新功能。

Asylum Research

Asylum Research是由科学家们创立的，其目的就是为其他科学家创造世界上优越的研究仪器。无论您的研究是材料科学，生命科学，聚合物，纳米测试，电学或磁学测量等，Asylum Research都是AFM领域内的技术**。

个性化、无可匹敌的客户支持

Asylum Research对MFP-3D提供5年免费质保。我们的应用科学家辅佐您的研究。利用“OnSight”远程支持系统，我们可以通过互联网诊断和控制AFM系统，我们基于Web的系统能够通过共享您的屏幕，鼠标和键盘，远程控制客户的电脑进行培训和诊断故障。

应用实例：

材料科学

Aggregate of colloidosomes formed from the flash-curing of methacrylate emulsion droplets that are stabilized with 400nm PMMA latex spheres， 50μm scan.

设备科学

Iomega Zip 1GB drive write head. The MFM phase signal was overlaid on top of the topography， 20μm scan.

生命科学

Shewanella oneidensis strain MR-1 bacteria showing conductive bacterial nanowires， 5μm scan. Sample courtesy M. El-Naggar， USC and Y. Gorby， J. Craig Venter Institute.

纳米压印

Nanoindentation on silicon， 1μm scan.

力曲线

Mechanical unfolding of protein

MFP-3D 功能模式：

MFP-3D可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：

接触模式：利用探针偏转反馈进行成像。可以获得高度，反馈和横向力信号

轻敲模式(AC和DualACTM模式)：带有Q-control模式的振幅反馈成像。可在大气或液相环境下获得高度，振幅/相位，反馈等信号

力学模式：轻敲或解除模式下的力曲线测试

横向力：摩擦力成像模式

MicroAngelo:标配的纳米刻蚀和纳米操纵软件

静电力显微镜(Electric Force Microscopy， EFM)

扫描开尔文显微镜(Scanning Kelvin Probe Microscopy， SKPM)

导电原子力显微镜(Conductive AFM， CAFM)-搭配ORCATM附件实现CAFM.

磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy，MFM)

可变磁场磁力显微镜(可选)

压电力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy)

矢量压电力显微镜(Vector PFM)

压电力响应谱测试(高压可选)

垂直纳米压印(可选)

双频共振追踪(Dual AC Resonance Tracking， DART）

热分析[Thermal Analysis (可选)]