XRF9 能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 XRF9能量色散X射线荧光分析仪 XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。 XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品,广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。 (注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点 先进的多光束可调系统 具有高分辨率的探测器 采用XYZ三维样品台 大型样品分析室 CCD摄像及自动定位系统 自动调节双层六通道滤光系统 完善的辐射安全防护 强大功能的软件操作系统 短时间多元素同时分析 无损分析和先进的薄样分析技术相组合 多种定量分析方法 无需液氮和水循环冷却 种类齐全的选配标准样品 RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置 外形尺寸:750(L)×590(W)×715(H)mm3 样品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3 主机质量:约45Kg 工作环境温度:0~40oC 工作环境相对湿度:≤80% 元素分析范围:AI-U 含量分析范围:1ppm~99.99% 重复性:<5% 测量时间:一般60~300s 测量对象:块状物体、粉末、液体 激发功率:50W 探测器分辨率:149gev 输入电源:AC110V/220V 高压电源:0~50kv/0~1mA X射线辐射剂量:≤1μSv/h 代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标
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