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NIRS XDS TOPA 近红外光谱分析仪
NIRS XDS TOPA 近红外光谱分析仪图片
产地:瑞士
化学计量学软件的名称:Vision
测样方式:透射/反射/漫反射/透反射
数据采样间隔:0.5nm
扫描速度:2次/秒
波长范围:400-2500nm
仪器原理:光栅扫描型
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产品介绍

仪器特性及优势

• XDS NIR 技术确保使用简单和定标的无缝转移
• 结实耐用的仓库或工厂用分析仪
• 无需样品制备,无需试剂,无任何废弃物
• 面向集中数据库管理的网络分析仪
• 热插拔模块——几分钟内即可完成更换,不会影响性能
仪器简介

采用 XDS TOPA 近红外光谱分析仪取代常规试验,您可以大大缩短产品停留时间,使实验室分析时间最小化。

XDS TOPA 近红外光谱分析仪是特别针对水状产品、透明液体、溶剂以及粘性样品的实验室监测而设计的。XDS TOP 近红外光谱分析仪非常适合用于中试过程应用和生产线的测量。

有了这种分析仪,可以很容易地使用一次性样品瓶分析粘性样品,缩短了清理时间。利用选配的样品瓶加热器模块,该系统还能在数据分析前,提供无人值守的样品加温平衡(最高可达 200 °C),提高了实验室效率。

XDS NIR 技术不仅带来了优越的分析性能,加快了定标方法的研发,缩短了实施时间,保证了定标的无缝转移。

使用先进、界面友好、具有联网能力的 Vision® 软件可以轻松实现鉴定、定性和定量等方法。只需按下一个按键或单击鼠标就能完成精准的分析。

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