访问量: 74666   网址: www.chinadbs.com/show40069    在线留言  加入收藏
梅特勒XS分析天平
梅特勒XS分析天平图片
产地:瑞士
校准方式:*
重复性:0.02/0.1
测量精度:*
最大量程:41/120
仪器量程:100-200g
仪器精度:千分之一克
索取资料及报价
产品介绍

技术参数

型号 最大称量值

[g]

可读性

[mg]

重复性(sd)

[mg]

线性误差

[mg]

典型稳定时间

[s]

秤盘尺寸

(W×D)[mm]

XS105DU 41/120 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73
XS205DU 81/220 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73
XS64 61 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS104 120 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS204 220 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS204DR 81/220 0.1/1 0.1/0.7 0.5 3.5/1.5 78×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

性能特点

●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁

●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作

触摸屏(TouchScreen):背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

网格秤盘(SmartGird):有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。

相关产品
我要咨询关闭
  • 姓名* 
  • 电话* 
  • 单位* 
  • email*
  • 留言内容:*
  • 验证码*  
  • 让更多商家关注