梅特勒XS分析天平
产品介绍 技术参数
DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差 性能特点 ●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响 ●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求 ●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁 ●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量 ●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作 触摸屏(TouchScreen):背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。 网格秤盘(SmartGird):有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。 |
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