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微区X射线荧光分析仪Atlas
微区X射线荧光分析仪Atlas图片
产地:美国
重复性:小于0.1%
能量分辨率:小于140eV
分析含量范围:ppm~100%
元素分析范围:Na-U
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产品介绍

介绍:

IXRF专注于精确地微区量痕元素分析产品,包括齐全的能谱仪(EDS)和X射线荧光(XRF)。

Atlas作为XRF市场的新贵,其在软硬件方面的优势,以及功能上的应用特点,注定其将成为微区XRF分析市场的里程碑式产品。

在硬件方面,作为一款台式XRF,Atlas的体积为890×560×560mm,具有市面上同类产品***样品仓体积,相对应的是***样品台行程以及最重的载重量,而与此同时,却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s,移动精度≤1μm。

其采用的毛细管聚焦技术,可将束斑缩至5μm(同类产品最小),另外也可通过选用准直器等配件,使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调;其多大8片的滤波片选择,可满足更多的分析需求。

在软件方面,作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司,IXRF在Atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。

在数据的获取及处理上,可实现数据的一键采集,或自动或手动的鉴别样品成分,并利用FP建模或quantitative match等功能实现样品成分的定量分析;在图像处理方面,不仅可对获取的图像进行拼接,还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能;在面分布及线扫描方面,可同时获得多达35种元素的信息,并且实现单像素的谱图数据采集,并可完全保存下来,后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。

在应用方面,可在各种环境,如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品,无论是固体、液体、颗粒、粉末,样品大小,抛光与否,表面粗糙与否皆可轻松胜任,且实现无损分析。

有鉴于Atlas的突出的性能特点,其被广泛的应用到地矿文博、电子器件、环境监测、刑侦医学、医药检测等方面。

技术参数:

样品类型

、液、颗粒、粉末

测试介质

空气、真空氦气

激发源

12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA

激发源参数:

靶材

束班尺寸

滤片

多毛细管或准直器

铑(其他可选

5μm-1000μm连续可调

最大8片

探测器

分辨率

活区面积

SDD

130-145ev

50-150mm2

样品台

X、Y、Z三轴

最大320X320mm可移动范围

最大载重10Kg

Mapping最大尺寸

220X200mm

样品移动速度

最大可达300mm/s

元素分析范围

Na-U

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