HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪
产品介绍 SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及**维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和**维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。 · 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及**维利系数 · 宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40% · 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定 · 软件操作简单功能强大,一键测量 · 双光路双角度粒径测量(90° 和173°) · 采用微量样品池 粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法) 粒径测定范围:0.3nm ~10μm 粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm) Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法 Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV 分子量测量原理:Debye plot 分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da 测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择) 样品量:12μL ~ 1000μL |
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