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激光光谱原位分析仪 LIBSOPA 200
激光光谱原位分析仪 LIBSOPA 200图片
产地:北京
波长范围:1064 nm
通道数:28
刻线数:2400/mm
焦距:750 mm
激发方式:火花
检测器类:光电倍增管(PMT)
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产品介绍

激光光谱原位分析仪(LIBSOPA-200)是激光诱导击穿光谱分析技术(LIBS)和原位统计分布分析技术(OPA)**结合的新型分析仪器。激光诱导击穿光谱原位统计分布分析技术(LIBSOPA)通过高能激光聚焦于样品表面,样品被击穿形成高温等离子体,通过检测等离子体光谱信号,获得样品的成分及元素分布信息的技术。其分析原理是:样品表面被高能激光击穿形成等离子体,等离子体光线经过滤波,分光之后被多通道的光电倍增管检测系统检测。根据光谱特征谱线波长得出被击穿位点的元素种类;定标后对应谱线的强度表示被击穿位点元素的浓度。借助精密三维移动平台在样品激发表面很好的定位和记录,实现任意点扫描,一维线性扫描,一维深度分析和二维面扫描分析,并据此获得与材料原位置相对应的各元素原始含量及状态信息,可以用统计解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。该方法不但有激光光谱的非接触分析,微区分析,深度分析的优点,又具备原位统计分布分析技术的原位性和统计性。LIBSOPA-200的研制成功为材料成分分析,缺陷分析,涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。

仪器特点

1.  首台LIBS技术与OPA技术结合的新型分析仪器,多项专利技术。

2.  多元素同时分析。28个元素通道,包含C,P,S元素,线性关系良好;

3.  预剥蚀时间,积分时间,门控延迟时间动态可调。

4.  分析简便、快速,无前处理过程,避免样品被污染;

5.  分析不受样品尺寸,状态,导电性,难熔与否的影响;

6.  LIBS具有高灵敏度与高空间分辨率,非常适合涂层材料、薄膜材料分析;

7.  微小烧蚀光斑可进行局部微区分析,表面微损分析,适合材料缺陷分析;

8.  非接触测量,响应迅速,分析时间短,可满足实时分析以及在线分析的要求。

仪器参数

激光光源

Continuum SureliteTM III-10 YAG激光器

波长:1064 nm

能量:700MJ

脉宽:5-7 ns

光束发散角:0.6 mrads

真空光学系统

巴邢—龙格架法,光栅焦距750 mm

高发光全息光栅,刻线为2400条/mm

谱线范围:170 ~ 800 nm

色散率

   一级色散率:0.55 nm/mm

   二级色散率:0.275 nm/mm

分辨率:优于0.01 nm

标准检测通道数量:21个

样品扫描定位系统

三维工作台

   行程:X轴75mm,Y轴75mm,Z轴15mm

   全数字式交流伺服驱动

   位置重复精度为5μm

   工件最大重量:5Kg

CCD成像系统

指示激发激光:激光斑点准确定位,精准指示

视场大小:3mm*2mm

聚焦精度:0. 1mm

电源要求

220V/20A

外形尺寸

宽×深×高(155 cm×75 cm×160 cm)

重量

毛重约700 Kg

工作环境

温度:18~25℃

湿度:≤60%


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