组合式荧光光谱测量系统-OmniPL

北京卓立汉光仪器有限公司

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组合式荧光光谱测量系统-OmniPL

产地:北京

灵敏度:3000:1

波长准确度:0.2nm

分辨率:优于0.2nm（@1200g/mm光栅）

狭缝(光谱通带):狭缝(光谱通带)

色散单元:光栅和滤光片

产品介绍

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。

OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。

系统组成：激发光源+ 样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机

OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数

● 激发光源：HeCd激光器

● 激发光功率：20mW

● 激发波长：325nm

● 瑞利散射截止滤光片，OD>6

● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）

● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）

● 波长准确度：±0.2nm

● 波长重复性：±0.1nm

● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm

● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K

● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量

● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱