JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。

主要技术指标：

1. 点分辨率：0.21nm；

2. 晶格分辨率：0.1nm;

3. STEM 分辨率：0.16nm；

4. 二次电子分辨率：0.5nm；

5. 能谱：可以安装两个超级能谱

6. 洛伦兹模式：标配