赛默飞(原FEI) Scios DualBeam 双束电子显微镜
产品介绍 Scios DualBeam FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。 高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为 20 eV 也是如此。 Scios 的材料科学应用Scios DualBeam 特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料,能够:
Scios 的生命科学应用有效的生物成像需要使用能够支持众多不同应用且不会降低对比度和分辨率的多功能设备。FEI Scios 是一款特别易于使用且能力极其出众的仪器,能使您的众多不同应用和工作流更具灵活性,功能更强大,而且借助高效和增值工作流, Scios 能让您在最短时间内获得极为准确的结果 |
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