XGS-9A高斯光束参数测量及光束整形实验系统
产品介绍 仪器介绍 本实验研究高斯光束的特性参数,高斯光束通过薄透镜的传输和变换性质,以及高斯光束的整形研究,重点对光束质量的评价和测量进行了阐述。 建立了一套以CCD为光斑探测器,结合计算机和测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布,计算出高斯光束参数,并用双曲线拟合法测量出质量因子。整套系统光路结构简单,使用面阵CCD作为探测系统,并对图像进行必要的处理。随后选取经过校准的数字图像信号进行分析和计算,求出激光束的相关参数。本实验涉及光、机、电等方面知识,很适合于光学专业实验教学,也可用于普通要求下的光斑测量。 可开设实验列表 高斯光束参数测量实验 能量分布图形 高斯光束的变换和参数测量 高斯光束的平顶光束整形 拉盖尔光束 规格参数 |
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