SGH-2等厚干涉综合实验
产品介绍 仪器介绍 近平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜/空气间隙等物质上,其上下表面的反射光干涉而形成的干涉条纹。薄膜/空气间隙厚度相同的地方形成同条干涉条纹,故称等厚干涉。本实验除了研究典型的牛顿环和楔形平板干涉以外,还研究了一些牛顿环装置的变种,如正交柱面镜等形成的椭圆,双曲等干涉条纹现象。 可开设实验列表 观测牛顿环干涉现象 测量平凸透镜曲率半径 观测劈尖干涉现象 用劈尖干涉测量细丝直径 观测柱面镜双曲线干涉现象 通过柱面镜椭圆曲线测量柱面镜曲率半径 规格参数 |
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