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光学热膨胀仪 DIL 806
光学热膨胀仪 DIL 806图片
产地:美国
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产品介绍

仪器简介:

DIL806光学热膨胀仪是一种创新的[1]和通用的测量热膨胀和收缩的仪器。测量样品的长度时完全没有接触,因此非常适合于薄的,形状不规则的和软的样品。

[1]美国专利#7524105

技术参数:

技术:

DIL806光学热膨胀仪采用了创新的测量原理,使非传统的热膨胀实验成为可能,并改善了许多传统的测试

测量原理

DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中,通过测量CCD探测器上样品的

阴影来测量一个方向上样品的**尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平

面光,通过一个扩散单元和准直透镜,产生高度均匀的、短波平面光。该

光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理,

并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度,进

而测定样品的尺寸。

**测量的优势

DIL806测量本质上是一个**的测量,不受随温度程序变化的系统热膨胀的

影响。 只有样品经历温度的变化,光源和检测器与这些变化相隔离。因此,

测量是**的,不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。

炉体技术

DIL806采用了创新的板形炉,提供了**的温度均匀性和响应时间。样品放

置于宽平面加热元件的中心,加热元件的尺寸远远大于样品,防止了在横向

方向上的温度梯度。炉盖内有一个类似的加热元件,位于样品的正上方,可

以最大限度地减少垂直温度梯度。

炉体能够提供100℃/min的快速加热以及10分钟内从1400℃至50℃的冷却时

间。快速的加热和冷却速度,保证了样品高通量以及温度快速变化下过程的

表征。

炉体的动态反应也使得DIL806特别适合仪器的控制软件所支持的速率控制烧

结实验。自定义软件包允许用户定义一个目标的烧结(收缩)率。可根据样

品特性,通过增加或减小加热速率实时调整温度,以达到目标速率。

非接触式测量的优越性

非接触式的测量系统提供了以下几个优点。因为没有直接施加负载到样品上,因此即便是最柔软的材料也可以获得***测量精度。

包括薄膜,或质地柔软测量或在实验过程中发生软化的材料。

由于与测量系统无物理接触,进一步提高了温度均匀性。顶杆可以作为散热件,在与样品接触点处产生热点或冷点。而DIL806是没有

这些接触点的,确保了整个样品在整个实验过程中温度的均匀,无需考虑实验中的温度分布。

广泛的测量面积大大简化了样品位置。仪器的测量面积,宽30毫米,在这个范围内的任何位置放置样品,仪器均能表现出优异的工作

性能。这样就简化了样品装载,去除样品位置的严格限制。

样品类型

DIL806提供了***灵活性的样品类型和制样。没有推杆接触,不再需要光滑或平行的样品表面。不规则形状的样品可以很轻松的测

量。薄膜样品可以很容易的在其长度或宽度方向进行测量。对于不透明、半透明或透明的材料, DIL806均能获得优异的测量结果。也

可以测量单个样品在几个方向上尺寸变化, 可以表征复合材料或者其他有取向性材料的各向异性的热膨胀。

因为DIL806可以使用多种样品类型和形状,因此它是对其他的测量的**补充。可使用DIL806对其他测量方法(比如动态力学分析仪

(DMA)、激光法测导热、表面硬度密度或其他)的同一样品进行测试

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