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磁悬浮吸附、解析分析仪
磁悬浮吸附、解析分析仪图片
产地:英国
压力范围:-196~500度
测试理论:BJH
测试范围:<50nm
分析站数目:1
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产品介绍

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及**的称量精度和稳定性。


  •   XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

  •   外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体的操作

  •   几何对称、精密设计的微量天平

  •   内部容积最小化

  •   大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

  •   宽动态称量范围(0-200毫克)

  •   操作压力高达200bar

  •   单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

  •   无需重新归零或原位校准

  •   采用IGA特有的终点预测方法

  •   全金属结构由高品质的VCR装配

  •   模块化设计,与所有配件兼容且可升级


产品应用

XEMIS的应用领域:

  •   气体吸附分析

  •   等温线的测定

  •   动力学分析

  •   热力学研究

  •   储氢

  •   甲烷存储

  •   二氧化碳封存

  •   气体的分离与纯化

  •   超临界气体吸附

  •   页岩气和煤层沼气研究

  •   离子液体中的气体溶解度测量

  •   化学吸附研究

  •   化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)

  •   金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架

  •   活性炭、碳分子筛和模板碳

  •   沸石和沸石类物质

  •   多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。

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