UV 754N 紫外可见分光光度计

上海禾工科学仪器有限公司

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UV 754N 紫外可见分光光度计

UV 754N 紫外可见分光光度计图片

产地:上海

光谱带宽:4nm

波长准确度:±0.5nm

杂散光(S.L.):≤0.05%T @220nm, 360nm

波长范围:紫外可见近红外

自动程度:自动波长

接收器类:光电倍增管（PMT）

仪器结构:双光束

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产品介绍

技术参数：

光学系统	Czerny-Turner (1200 L/mm grating)
波长范围	190～1100nm
带宽	4nm
波长准确度	±0.5nm
波长重现性	≤ 0.2nm
透射比准确度	±0.002A(0～0.5A);±0.003A(0.5～1A);±0.3%T(0～100%T)
透射比重复性	≤ 0.001A(0～0.5A);≤0.002(0.5～1A);≤0.15%T(0～100%T)
光度范围	0～200%T， -0.301～3.000A， 0～9999C
漂移	≤0.001A/h @ 500nm
基线直线性	±0.002A
噪声	100%≤0.15%T; 0% ≤0.1%T
杂散光	≤0.05%T @220nm， 360nm

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