二手IRIS Intrepid II XSP电感耦合等离子体发射光谱仪
产品介绍 系统配置: ■赛默飞 IRIS Intrepid II XSP 电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES 这台仪器状况良好,已经在SpectraLab Scientific进行了测试。 所有套件和组件均包含90天保修。 仪器实物图: 仪器简介: 一、用途及功能 用途:广泛应用于环境、冶金、地质、农林、石化、矿物、材料、食品、卫生和医药等领域。 基本功能:可同时测定73种金属及部分非金属元素测定,可进行定性及定量分析。 二、主要技术参数及特点 主要技术指标: 1. 焦距:381 mm 2. 波长范围:165~1050 nm, (可测量Br, Cl, I元素) 3. 分辨率:0.005nm在200 nm处 4. 杂散光: < 0.3 ppm,10000 ppmCa 在As193.696 nm处 5. 全波长自动校正 6. 晶体控制频率:27.12 MHz 7. 频率稳定性:0.004% 8. 输出功率: 750~1500 W连续可调 9. 功率稳定性:0.01% 10. ICP 观测方式:垂直炬
|
相关产品
|