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TE致冷CCD光谱仪
TE致冷CCD光谱仪图片
产地:美国
杂散光:0.05%@600nm
动态范围:300:1
信噪比:4800:1
灵敏度:60光子/计数值
分辨率:0.6nm - 4.0nm
光谱范围:可见
按探测器:CCD
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产品介绍

TE致冷CCD光谱仪

Glacier™ X是高性能的TE致冷线阵CCD光谱仪。与非致冷的CCD光谱仪相比,Glacier™ X可以提供更高的动态范围,更显著的降低光谱仪的噪声,更优异的长期稳定性,更适合微光检测和长时间连续监测等应用。它的低检测波长可达200nm,高可达1050nm。根据不同的配置,光谱分辨率0.6-4.0nm可选。灵活的配置及完备的应用支持,使其成为众多的微光检测、长时间光谱检测应用需求的理想选择。

Glacier™ X采用2048像元检测器,内建16位数字转换,高速USB2.0即插即用数据接口。

B&W Tek提供灵活的配置以满足不同的光谱分析应用需求OEM客户的特殊要求。

产品特点:

  • 紫外-近红外波段

  • 0.6nm - 4.0nm 光谱分辨率

  • TE致冷/控温

  • 16位数字转换

  • 500 kHz 读出速度

  • 即插即用USB 2.0数据传输

  • 提供OEM版本

应用:

  • 紫外可见近红外 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析及应用

  • 长积分检测

  • 吸光度测量

  • 反射率测量

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