easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪
 产地:美国
XAFS采谱速度:0.1-2.0 eV/s 可测试元素X射线吸收能量范围:5-12keV; 可达19keV 可测试最低样品元素含量:0.1 wt% 单色X射线光通量:XAFS:300000～500000（7-9 keV）;XES:100000～150000（7-9 keV） X射线光源功率:XAFS:1.2 kW XRD（Mo/W）;XES:100 W XRF（Pd/W） 索取资料及报价产品介绍 台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES） 美国easyXAFS公司**推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES），采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。
easyXAFS产品参数
easyXAFS 产品优势 - 无需同步辐射光源 - 科研级别谱图效果 - 台式设计，实验室内使用 - 可外接仪器设备，控制样品条件 - 可实现多个样品或多种条件测试 - 操作便捷、维护成本低 easyXAFS 应用案例谱图展示 1、XAFS300
2、XES100 ■ XES Mode
■ XAFS Mode
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