Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要特点包括: - PAN STM/AFM扫描头体积极小(2.96”X1.55”) - 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动(5mmX5mmX10mm) - 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围 - 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更换 - 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体 - 与RHK**全数字R9控制器一同使用 适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。 |