产品介绍 仪器简介: * 应用领域 - 常规的光致发光测量; - III-V族 化合物半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等 - LD, LED研发,生产中品质分析,控制 -荧光检测 -EPI-Wafer auto PL Mapping -钻石,珠宝鉴定,内含物分析等。 扩展使用: -PLE(PL 激发) -TRPL(time-resolved PL) -TDPL(temperature dependent PL) -Micro-PL -Confocal PL -nano PL by using Nsom(near -field scanning optical microscope 主要特点: 仪器特点 : • 高品质及中等价位的PL扫描系统(可选配自动样品扫描装置,实现mapping功能); • 波长范围宽广(UV-VIS-NIR,); • 设备坚固,安全,更多于竞争公司产品的特点(如快速mapping检测) • 噪声低,高PL信号探测; • 可选配多种激发源(多种波长激光源) • 设计紧凑,易于调谐; • 各种激发激光源可选; • 光谱分析软件可获得光谱带宽,峰值波长,峰值副瓣鉴别、光谱数据运算。。。。 • 可实现同时对膜厚及反射率的检测 • 双PL峰分离功能 。。。。。。。 本系统主要的特点: 1。除激光外,同时可使用分光计和样品chamber组合而成。 2。利用He-Cd laser,laser power meter对可调节光强的ND filter和laser光强进行监控 3。分光计部分追加了一个port,不仅可以通过CCD探测器进行测定,也可通过PMT/IR Detector进行测定。 4。为了去除来自分光计2nd order的光,利用laser line filter控制cut off filter和laser的plasma line。 根据客户的需要可与如下装置一起装配: 1。PL+Micro Raman(显微拉曼系统) 2。PL+Cryostat(低温装置,4K,77K。。) 3。PL+PLE 4。PL+PLE+ATR 。。。 |
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