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光致发光检测系统
光致发光检测系统图片
产地:其他国家
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产品介绍

仪器简介:

* 应用领域

- 常规的光致发光测量;

- III-V族 化合物半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等

- LD, LED研发,生产中品质分析,控制

-荧光检测

-EPI-Wafer auto PL Mapping

-钻石,珠宝鉴定,内含物分析等

扩展使用:

-PLE(PL 激发)

-TRPL(time-resolved PL)

-TDPL(temperature dependent PL)

-Micro-PL

-Confocal PL

-nano PL by using Nsom(near -field scanning optical microscope

主要特点:

仪器特点

• 高品质及中等价位的PL扫描系统(可选配自动样品扫描装置,实现mapping功能);

• 波长范围宽广(UV-VIS-NIR,);

• 设备坚固,安全,更多于竞争公司产品的特点(如快速mapping检测)

• 噪声低,高PL信号探测;

• 可选配多种激发源(多种波长激光源)

• 设计紧凑,易于调谐;

• 各种激发激光源可选;

• 光谱分析软件可获得光谱带宽,峰值波长,峰值副瓣鉴别、光谱数据运算。。。。

• 可实现同时对膜厚及反射率的检测

• 双PL峰分离功能

。。。。。。。

本系统主要的特点:

1。除激光外,同时可使用分光计和样品chamber组合而成。

2。利用He-Cd laser,laser power meter对可调节光强的ND filter和laser光强进行监控

3。分光计部分追加了一个port,不仅可以通过CCD探测器进行测定,也可通过PMT/IR Detector进行测定。

4。为了去除来自分光计2nd order的光,利用laser line filter控制cut off filter和laser的plasma line。

根据客户的需要可与如下装置一起装配:

1。PL+Micro Raman(显微拉曼系统)

2。PL+Cryostat(低温装置,4K,77K。。)

3。PL+PLE

4。PL+PLE+ATR

。。。

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