OLED TOF测试系统
产品介绍 飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于 脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究. - 有机半导体中的载流子输运 - 电子/空穴迁移率的测量 - 飞行时间法测量(TOF) - Dark Injection Transient (DIT) - Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV) - 低温测量 |
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