菲希尔X荧光射线金镍镀层无损测厚仪
产品介绍 菲希尔无损测厚仪可用于检测金镍厚度,元素分析,涂层镀层检测,材料分析等。菲希尔X-RAY系列产品可以分析从元素氯(17)到铀(92)的元素,最多可同时测定24种元素。 设计理念: FISCHERSCOPE X- Ray ADLM-PCB系列仪器是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙,以方便对大面积印制电路板的测量。 样品定位简便的特点: XDLM-PCB 200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。 XDLM-PCB210和220:仪器配备了高精度、可编程的XY平台,并带有弹出功能。激光点作为辅助定位,能帮助快速对准测量位置。 高分辨彩色摄像头,使得对准测量位置的过程更加准确。简便。 通过强大且界面友好的WINFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有的相关信息的显示等。 X-RAY XDLM-PCB系列仪器完全符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。 应用领域: 钟表,首饰,眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金 连接器 化学药水 通信 半导体封装测试 电子元器件 PCB |
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