产品介绍 产品名称:CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪,是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内**水平的全元素分析仪器,当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为“国家重点新产品”,同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发,采用了国外***的半导体电制冷探测器进行探测,数字化谱分析技术,2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析,一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业:生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析; 耐火材料:各类样品成份分析; 有色行业:铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析; 质检部门:工业产品、金、银等各种成份分析。 型号:CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术,计数率高,无漏计,稳定性好; 采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率; 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器,分辨率高,无需液氮制冷,使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测; 高压电源:电压 0V-50kV连续可调;电流0-lmA连续可调,数码显示,精度高,无故障操作; 样品种类:固体、粉末、液体均可,压片无需添加任何试剂; 腔内环境:空气或真空; 真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围; 2048道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便了解样品的组成; 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析; 自动稳谱,消除谱峰漂移影响,确保仪器长期稳定; 专业的分析软件,可以实现模式识别,自动分类,开放式软件系统,用户可以根据自身需要建立库文件; 全中文Windows应用软件,操作简单。 技术指标 分析元素:Mg-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围:1ppm-99.99% 同时分析:20多种元素同时分析 能量范围:1-30keV 测量时间:1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率:150ev 管电压:0-50Kv 管电流: 1~1000 μA 仪器的分析精度:标准偏差≤0.08% 分析误差:优于国家标准要求 辐射剂量:<25μsv/h. 工作环境:温度10~35 ℃ 湿度30~70%RH 電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管(1KV-40KV) 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套 |
相关产品
|