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理学能量色散X射线荧光分析仪NEX DE
理学能量色散X射线荧光分析仪NEX DE图片
产地:日本
行业专用类型:通用
重复性:0.1%
能量分辨率:小于140eV
分析含量范围:1ppm-99.99%
元素分析范围:Na(11)~U(92)
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产品介绍

用于分析少量粉末样品,如果是粉末,则样品体积足以用于微刮刀。直接激发光学系统可以对最小直径为1 mm的小样品进行灵敏分析。


作为粉末X射线衍射的辅助装置,从Rigaku制造的集成粉末X射线分析软件PDXL的定性分析的自动搜索设置屏幕,您可以阅读NEX DE的测量结果文件。 NEX DE获得的元素信息反映在搜索条件中。可以从Na到U进行分析
它可以从研究和开发到过程控制一般使用。通过FP方法进行无标准分析由于批量FP方法和薄膜FP方法作为标准安装,因此即使对于不能制备标准样品的样品,也可以容易地进行定性和定量分析。此外,还可以使用标准校准方法进行定量分析。可以安装在任何地方,仅使用AC100V电源供电,无需冷却水。没有必要指定X射线任务管理器。 只需将异形?小直径样品与样品观察相机放在一起就可以简单进行测量。只需轻轻一按就可以生成RoHS专用结果报告书。除RoHS以外、还可以用于异物分析、少量样品等多种分析。

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