AR-Meta 超表面光场检测系统 采用 消除像差 的光学设计，以商用设备实现 μm 量级超表面器件的原位、宽谱段的透 / 反射光场测量，并提供焦距、成像分辨率、点扩散函数、调制传递函数、斯特列尔比、数值孔径、偏折效率等关键测量指标分析。结合丰富的偏振器件，为您带来一款“专业化”的超表面与超透镜光场检测平台。

超表面器件  超表面器件在空间上具有复杂的光场调控能力，需要在微米尺度下扫描光场。

超透镜  受限于设计规模和微纳加工能力，超透镜难以实现较大口径。面向折射型透镜的传统检测工具已无法满足该类器件的光学性质表征需求，针对超透镜特点设计的检测平台应运而生。

微透镜  口径在数百微米以下的微透镜及阵列，在集成光学中已开始发挥重要作用，受限于透镜口径，当前缺乏商用化的微透镜光学指标检测平台。