MICRO CONTROL COMPANY是****的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。

MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求

LC-2 高性能低成本老化测试系统

• 12.5” x 24” or 317mm x 609mm老化板，可同时放入64块

• 每板功率或电流可达400W or 240A

• 128个独立I/O，多达4M矢量深度(可升级)，10 ns clock resolution，200 Mhz     high speed clock

• 单颗最大功率20W，同时测试1536颗

MCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）

1、为所有集成电路提供最适宜的老化测试温度

2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率

3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率

4、老化测试中，能够提供最精确汇合温度的**工具

MCC独立温控系统通过空气阀 (冷却) 和 Heat-sink加热器 (加热) 机构实现待测产品的独立温控