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高分辨率紫外波前传感器
高分辨率紫外波前传感器图片
产地:法国
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产品介绍

高分辨紫外波前传感器

PHASICS公司将SID4产品系列扩展到UV波长。集合了PHASICS所有先进技术(4波横向剪切干涉法*)的SID4 UV-HR光谱范围为190到400 nm。

采样分辨率为250 x 250个测量点适合用于测量光学器件(可用于光刻、半导体等)和表面检查(例如晶片检验)。

有高灵敏度的SID4 UV-HR是具有成本效益的检测高分辨率紫外解决方案。

主要特点

高分辨率(250 x 250)

大孔径(8,0 mm x 8,0 mm)

覆盖UV光谱

高灵敏度(0,5 nm)

优化信噪比

适用于光学测量

参数

孔径

8.0 x 8.0 mm²

空间分辨率

32?um

采样点

250 x 250

波长

190 - 400 nm

精度 (**模式)

10 nm

灵敏度

0.5 nm

动态范围

> 200?um

曲率半径

10 mm到+∞?

曲率半径灵敏度

< 5.10 m

分割频率

1 fps

采样频率

30 fps

尺寸(l x H x L)

95 x 105 x 84 mm

重量

900 g

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