Sartorius赛多利斯M-Pact精密|分析天平

M-class天平是专为实验室和学校初次使用天平的用户而设计。各种型号，从用于自然科学研究的便携式精密天平，到自动校准的高精度分析天平，一应俱全

• 赛多利斯称重技术，如快速测量结果和赛多利斯非凡的可靠性
• 质量好，性价比较高
• 结合实际的设计，即使是天平的初次使用者，也可高效、无误地使用该天平进行工作

• 量程最大6，200 g
• 分辨率最大0.1 mg
• 自动内校
• 较大称量平台