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200-1050nm高速CCD光谱仪
200-1050nm高速CCD光谱仪图片
产地:美国
成像分辨率:14µm x 200µm
光谱分辨率:14µm x 200µm
光谱范围:200-1050nm
成像方式:二元光学元件
使用状态:地面
工作原理:其它
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产品介绍

SM245高速CCD光谱仪

特点:

1、低噪声和低的杂散光

2、灵活的光学接头可直接插入狭缝和光纤

3、应用广泛

4、高速数据采集

5、200-1050nm波长范围

6、16bit的USB 1.1/2.0界面

7、支持多达8通道配置

8、UV增强涂层

软件

  • sm32pro Windows®95,2000,XP,7的软件(支持32bit和64bit)进行数据采集和分析

  • ? Transmission, reflectance, and absorbance measurements

  • 透射、反射和吸收测量

  • ? Data export, zoom in and out, spectrum overlays, and many more features

  • 数据导出、放大、缩小、频谱重叠,和许多更多的功能

  • ? Color analysis tools included

  • 包含颜色分析工具

  • ? Signal average and integration time control

  • 信号平均和集成时间控制

  • ? DLL libraries available for easy user software development in DOS and Windows®

  • DLL库便于用户在DOS和Windows®环境下开发软件

  • ? VC++/VB/Labview examples available

  • 包含VC++、VB和LabVIEW的示例

参数

探测器

Sony ILX511 CCD

? 像素值: 2048

? 传感像素尺寸: 14μm x 200μm

? 灵敏度: 1800 V/(lx s) @ 660nm

? 井深: 62,500 e-

光谱焦距 f#

2.7

暗噪声有效值

<35 RMS counts in 16bit @35msec integration time

信噪比

>250: 1

光纤耦合

标准SMA905 or FC 接头

有效光谱范围

200-1050nm

滤波片选择

长通滤波片或者覆盖每个波长的线性可变滤波片

光谱精度

根据选择的狭缝和光栅0.25到 10nm

杂散光

<0.05% at 632nm (<0.1% Ave)

电脑界面

USB 1.1/2.0 16 bit (0-65535)

最小积分时间

1msec

触发模式

自由运行模式

软件触发模式

外部触发模式

尺寸(英寸)

6.0 H X 3.3 W X 1.9 D

重量

1 lbs.

软件

SM32Pro (免费配置)

包含DLL l库和SDKs便于用户使用开发

SM245高速CCD光谱仪

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