产品介绍 DECTRIS混合像素X射线探测器 一、EIGER2 R探测器系列 1、产品特点: 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中,EIGER2 R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的***技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围,可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性,从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合,提高了空间分辨率和角度分辨率,可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。 2、核心优势: – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写,所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用; – 免维护 3、应用领域: - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS); - 大分子晶体学(MX); - 化学结晶学; - 单晶衍射(SCD); - 粉末衍射(PD); - X射线成像; - 表面衍射; - 漫散射。 4、技术参数:
二、MYTHEN探测器系统 1、产品特点: MYTHEN探测器系统完全转变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义,呈现出另一个层面:时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器**结合,开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数, MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了****的帧速率,挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系(DCS4)兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡,无论从现场应力测量到快速相变,MYTHEN2 X 深化了其细节,并能够在固态反应中进行观察。MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计。 2、核心优势: - 1000赫兹帧率; - 两个模块组合:1280和640数据带; - X-射线能量低至4keV的短数据带; - 适用于PDF测量的厚传感器; - 多模块系统满足您的要求; - 紧凑型外观,对称设计; - 无需维护和载体。 3、应用领域: - 时间分辨试验; - X射线粉末衍射和散射技术; - 残余应力测量; - 薄膜与纹理分析; - PDF分析; - SAXS, WAXS, GISAXS; - 色散荧光光谱。 4、技术参数:
*低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注:所有规格如有变更,不做另行通知。 PILATUS3 R探测器系列: 三、 1、产品特点: PILATUS3 R 混合光子计数(HPC)探测器经过重新设计,旨在实现***数据质量。该系列探测器基于同步辐射技术,并融合了两种关键技术:单光子计数和混合像素技术,实现了更好的实验室体验。 PILATUS3 R 系列进一步完善了我公司实验室用系列探测器的独特优势: DECTRIS 的即时触发技术配合 PILATUS3 独特的技术优势,充分提升了计数率和计数率的准确校正。 PILATUS3 R 探测器的高计数率,使得其在处理高强度信号时显示了独特的优势。 DECTRIS 即时触发技术可被用来准确测量具有高强度衍射的样品,如小分子或无机复合物样品的高强度衍射峰。 单光子计数可消除所有的探测器噪音,从而得到优质的数据相对于同步辐射,实验室中的X射线源要微弱得多,只能得到较为微弱的衍射信号,因此通常需要较长的曝光时间。由于没有暗电流和读出噪音, PILATUS3 R 系列探测器比其它实验室用探测器具有更优的性能。 HPC 技术使得该系列探测器可直接探测X射线,比闪烁器探测器所产生的信号更为清晰。读出时间短并能连续采集信号的 PILATUS3 R 系列探测器可高效输出优质数据;较低的功耗和冷却要求可确保您轻松使用并最大限度的减少维护工作量。 PILATUS3 R 系列探测器专为您的实验室需求而量身定制,可提供****的同步辐射成熟技术。具有独特性能的PILATUS3 R 系列探测器,可助您从**挑战性的样品中采集到**质的实验数据。 2、核心优势: – 可在单光子计数模式下直接探测X射线; – DECTRIS即时触发技术,可实现全程连续计数; – ***局部和整体计数率; – 准确的计数率校正,可在最高计数率条件下获得**数据质量; – 无读出噪音和暗电流; – 出色的点扩散函数; – 高动态范围; – 读出时间短,帧频高。 3、应用领域: – 生物大分子晶体学(MX); – 单晶衍射(SCD); – X射线衍射(XRD); – 小角和广角X射线散射(SAXS/WAXS); – 表面衍射; – 漫散射; – 时间分辨实验; – 成像; – 无损检测。 4、技术参数:
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