产品介绍 RoHs/卤素(无卤)检测系统 型号X-5600 产品概述: X-5600型RoHS测试仪是一种体现X射线荧光分析技术**进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率水制冷小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的独特分析方法的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方, 正是它大有作为之处。 主要应用于电子 、五金、包装等行业材料中的有害元素检测、玩具、PVC、陶瓷等行业的卤素(即无卤检测)和RoHS检测;也可用于电镀行业的镀层分析、玻璃、皮革等行业及质检商检机构。 产品特点: 1.无损检测:无需制样,无损、快速分析 2.仪器双箱体结构:有效屏蔽干扰,增加仪器整体稳定性,保障测量结果的准确 3.三重防辐射系统:样品仓打开,X光管快门自动闭锁;更换样品时X光管自动切断电压电流;仪器多层屏蔽舱盖,有效防止X射线外溢 4.银铜双峰位自调系统:银、铜双峰位同时自动校准,当仪器峰位发生偏移时,随时修正工作曲线,软件可自动调整并恢复仪器到正常测量状态,避免系统偏差带来误差,随时保证测量数据精准(同行业中**采取软件双峰位全自动调整系统); 5.温度控制系统:内部采用风冷、水冷,油冷三重冷却系统,最大限度降低X光管工作温度,有效延长X光管使用寿命,且保证仪器长时间工作稳定,测量精度更准确; 6.操作软件:开放式操作软件,用户可根据自己的需求进行二次开发,实现仪器的最大效用,使一机多能; 7.报告格式:输出报告格式可根据用户要求独立设计,用户也可以自行二次开发 8.定量分析方法:基本参数法、理论Alpha系数法、经验系数法、多元回归法等(国内同行业**采取此类综合计算方法); 9.定性分析方法:元素自动寻峰、Kl谱线标记法、谱峰比对法等 10.分析强度计算方式采用,毛强度、净强度、解谱、峰背比及内标比,根据不同条件可选择最适当的强度计算方式。 11.镀层检测功能:可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测 12.选配:可选配移动平台,方便物体移动,多点检测 技术参数: 1、元素分析范围:从铝(13号元素)—铀(92号元素); 2、含量分析范围:1mg/Kg - 10^6mg/Kg(1ppm=1 mg/Kg) 3、测量样品型态多样:固体、粉末、液体; 4、测量时间:快速检测模式2秒,正常检测模式30-180秒,可由用户自由选择 5、分析检出限: 铬Cr的检出限是2.1ppm; 汞Hg的检出限是3.2ppm; 铅Pb的检出限是1.2ppm; 溴Br的检出限是0.3ppm; 镉Cd的检出限是5.8ppm 氯Cl的检出限是12.6ppm 针对三星内部标准,加测锑Sb元素,检出限4.3ppm 6、激发源:采用低能耗大功率 X 射线管,最高电压50kV,最大电流1mA; 7、滤波系统+准直器:10种滤波片与5种准直器自动切换组合系统,提升检测范围和精度,并对不同元素采用有针对性的检测条件 8、高压电源:最大50W,50KV,1mA; 9、探测器:美国原装进口Amptek公司电制冷X-123 SIPIN半导体探测器; 10.探测面积:6mm2 11、分辨率:55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于129eV;对于12us的形成时间,半高宽为129eV 12.硅活化区厚度:500μm 13.探测器窗口:铍窗,12.5μm厚 14.重复测量稳定性:10次连续测量的标准偏差小于0.05% 15、多道分析器:2048道; 16、摄像头:CCD光学镜头; 17、样品成像定位系统:内置自感光500万像素摄像头及定位软件,方便样品的局部定位测量; 18、工作电源:交流 220V/50Hz 19、样品仓尺寸:345×335×120(mm) 20、外型尺寸:600×520×370(mm) 21、仪器重量:约39公斤 22、工作环境温度:18℃—28℃ 23、工作环境相对湿度:≤70% 安全对比数据说明: 比对数据: 表一、欧标EC681K测试数据对比: (单位:mg/Kg)
表二、欧盟标样EC681K、EC680K测量结果: (单位:mg/Kg)
辐射安全报告
依据《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》GBZ115-2002,空气比释动能率低于2.5μSv/h对人体不够成伤害。 |
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