产地:德国
帧频:15fps 空间分辨率(IFOV):0.1mm 视场(TFOV):8° 成像分辨率:0.1mm 光谱分辨率:2GHz 光谱范围:0.01-4THz 成像方式:三维 使用状态:地面 工作原理:推扫型 索取资料及报价产品介绍 THz-TDS太赫兹时域光谱仪背景知识 基于超快激光的THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技术,是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J. Watson Research Center)提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS技术属于电磁辐射位相相干探测技术,是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量,获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换,获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此,太赫兹时域光谱仪THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。 Batop BATOP成立于2003年,是一家曾隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队,使得其公司产品具有很高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里,BATOP一直致力于太赫兹光电导天线PCA和 太赫兹时域光谱仪系统THz-TDS的研发。BATOP不仅提供单带隙光电导天线,还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉光电导天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪THz-TDS性能稳定,各项参数优良,功能多样:可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。 BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品。 太赫兹时域光谱仪TDS10XX产品特点: ——内置样品仓,可充氮气进行透反射测量 ——规格多样的外置光纤耦合光电导天线可选 ——外置角度扫描装置可选 ——外置成像模块可选 ——T3DS软件支持 TDS10XX太赫兹时域光谱仪各型号参数规格:
BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008实测信号: 太赫兹时域光谱仪TDS10XX可选配件: 快速扫描模块 FSU 光纤耦合天线对 2FCA 成像模块 IU (电机行程可选15cm、30cm 、45cm) 角度扫描模块 T2T 透射样品架 SHT(放在样品仓内,用于透射谱测试) 反射样品架 SHR(放在样品仓内,用于反射谱测试) 光纤耦合天线样品架 SHF(可测试透射反射谱) 衰减全反射样品架 SHA(用于衰减全反射ATR测试) 2欧元硬币成像: BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008安装现场: |
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