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UV2000抗紫外透过性能分析仪 UV-2000F
UV2000抗紫外透过性能分析仪 UV-2000F图片
产地:美国
光谱带宽:<4nm
波长准确度:±1nm
杂散光(S.L.):≤0.01%
波长范围:紫外可见近红外
自动程度:自动波长
接收器类:光电二极管阵列
仪器结构:单光束
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产品介绍

UV2000抗紫外透过性能分析仪

优势

蓝菲光学的UV-2000F抗紫外透过性能测试仪将**的电子元件及软件技术融合到行业认可的系统架构中,来获得精确的纺织物的UPF值、临界波长和UVA:UVB(长波紫外线:短波紫外线)比值。在产业需求迅猛发展的驱动下,为了达到简化对纺织物样品的研发和质量控制,UV-2000F按照**的国际认可的测试方法进行设计开发,例如AS/NZ 4399:19961,EN 13758-1:2001 AATCC TM 183-2000 和 GB/T18830。UV-2000F替带蓝菲光学之前的UV-1000F作为行业的新选择,不但用于实验室UPF分析,而且可以用于产品的基本质量控制。

快速

UV-2000F能够快速测量250 - 450 nm紫外线波段内纺织品样品的漫透射率。蓝菲光学的Spectralon®积分球采用了重新优化的闪烁氙灯作为光源以提供良好的样品漫反射照明效果,从而减少积分时间。新型二极管阵列光谱仪配合新型先进的光纤、光学性能在系统级别进行优化,从而降低了杂散光,提高波长稳定性和闪烁的重复性。

改进

UV-2000F做了很多改进,包括新的二极管阵列光谱仪、闪烁氙灯、光学耦合光纤、光学头定位结构、样品定位平台和一套新的、稳定的软件开发平台,从而建立了新的业界标准。

新的二极管阵列光谱仪性能稳定,特殊定制的凹面衍射光学系统用于保证测量的完整性和良好的可重复性。采用新颖的全息衍射光栅,摒弃传统的复制光栅方式,保证了波长范围内较高效率,较长的像素阵列保证了更好的像素波长分辨率。积分球内的照度经过滤光片从而限制了样品总的曝光时间,改善了杂散光性能。

特点

  • 一触式的样品分析设计,5秒内获得分析结果

  • 自动计算光谱透射率、UPF、临界波长和VUA与UVB的比值

  • **的性能自检程序

  • 可以根据系统自带的方法如AS/NZ 4399:19961,EN 13758-1:2001 AATCC TM 183-2000,GB/T18830以及客户定义的方法自动计算UPF值

适用领域

高的闪烁频率减少了曝光的时间,使暗电流最小化,动态范围最大化。使用耐日照光纤保证长时间的批量测试,较长的光纤可以滤除高阶模式,保证较纯净的光栅照明,从而改善杂散光表现。

新型UV-2000F包括以下性能

  • 紧凑易用的样品操作台

  • 波长精确度达±1nm

  • 测量区域0.67cm2

  • 动态范围增大至2.7AU

  • 自动闪光性能

  • USB电脑接口

  • 测量UVA:UVB比值

  • 手动操作UV - 2000 F样品的装配

操作简便

可以通过点击按钮生成测试报告,报告包括如日期,时间,操作人姓名,样品信息和测试参数等必要信息。可以在个人电脑上查阅这些信息,还可以打印或者输出为文本格式进行进一步的数据分析处理。

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