AUW-D半微量分析天平

AUW-D半微量分析天平

产地：日本

天平类型：半微量天平

校准方式：内部校准

天平精度：0.1/0.01 mg

产品介绍


率先在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc
全自动内校：PSC和Clock-CAL 使用者可以使用两中全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化，天平会自动校准，而“Clock-CAL” 是在预定的时间，天平会自动校准。
GLP/GMP/ISO校准记录通过打印机，校准记录可以自动打印输出。时间、日期可以打印输出，符合GLP/GMP/ISO要求


Windows直通视窗测定数据可直接输到Windows应用程序上，无需安装其它软件。