仪器简介：

全新的电子光学系统灵敏度高，即使在最复杂的表面化学分析中，如传统的材料和合成生物技术，纳米以及制药行业中，K-Alpha都可以进行详细分析。其特点是对小材料的分析能力，并结合高灵敏度，实现快速、化学态成像采集。完整的离子源提供了高分辨率的深度形态分析，因此完成真正的三维分析。

结构紧凑的设计以及内置系统校正特色，正是实现了目前赛默飞世尔公司产品所倡导的分析产品的宗旨：功能强大，低运行成本。

技术参数：

K-Alpha光电子能谱仪(XPS)

表面分析中一盏闪耀明灯

● 微聚焦单色化XPS，高精度鉴别化学态

● 全自动操作，快速准确地分析表面化学表征

● 高灵敏度化学成像

● 高分辨率深度剖析

● 可进行包括绝缘样品在内各种样品的小面积XPS分析

● 使用独特的反射光学系统轻松对准分析区域

● 专利技术的自动中和装置

● 大大改善了仪器使用的简便性、安全性和稳定性

● 稳固保持仪器**性能，可随时自动校准仪器参数

● 最大限度提高了样品分析通量

● 坚固和一体化设计

良好的性价比，降低了使用者成本

主要特点：

K-Alpha XPS可以对固体材料进行纳米级表面化学成分的定量分析。无论是绝缘体，半导体以及金属物质，在用户友好型界面下，全自动、稳定地完成检测。这款创新的检测系统特别为高通量样品分析所设计，并且结合了独特的数据处理运算方法，从而实现了从数据采集，数据解析到生成报告的自动化。