 产品介绍 Nano RamanTM 重要特征 1多种样品分析平台 高分辨样品扫描器，扫描样品面积从纳米尺寸至样品台限 2简便易操作 全自动操作，大缩短了测试时间 3真共聚焦 高空间分辨率，自动成像平台，多种显微镜可视观察系统 4高灵敏度 多只有三面反射镜，灵敏度和光通量得到大提高，提高设备稳定性 5高光谱分辨率 多光栅自动切换，宽的光谱范围用于拉曼和 PL 测试 6纳米尺度空间分辨率 通过针尖增加拉曼光谱 (TERS) 成像，实现 10nm 的空间分辨率 7多种测试模式 / 多种环境 多种 SPM 模式，包括 AFM、导电 AFM、开尔文、STM 模式，可以子在液体和电化学环境下测试，通过 TERS 和 TEPL 技术，可同时获得化学信息成像通过一台电脑即可控制及使所有功能。另外，SPM和光谱仪也可以单独控制使用 8稳定性 采用新一代 50 KHz 高频调制 SPM 扫描器，远离生活噪声，具有高信噪比和稳定性 9灵活性 具有顶部、底部、侧向等多个方向拉曼探测能力，满足各方面应用研究需求 强有力的的物理、化学结构表征工具 1功能强大 · 可同时进行 SPM 和拉曼光谱测试 · 顶部和侧向均可使用高数值孔径 ×100 物镜，使得同区域测量能获得更高的空间分辨率，针尖增强拉曼 (TERS) 具有高的信号收集效率 · 通过 SWIFT XS 和 EMCCD 探测器可以实现高通量信号收集能力和快速扫描速度 · 宽光谱范围：从深紫外到近红外 · 可选配 HORIBA 拉曼光谱仪系统以获得高光谱性能 2操作简单、快速！ · 一键完成“悬臂梁 - 参考激光”对准及调谐频率优化，无需手动调整 · 换针尖时无需移动样品，换完针尖后还能很容易回到原来样品位置 · 通过物镜扫描器自动完成拉曼激光与 TERS 针尖耦合 · 通过一台电脑即可完全控制 操作简单的TERS系统 拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统，同Omni TM 型号的 TERS 探针，可同时获取样品表面形貌和 TERS 光谱。 HORIBA 的 NanoRaman 系统结合 Omni TM 的 TERS 针尖提供了理想的增强方案。 · 适用不同方向的 TERS 耦合 : 顶部、侧向和底部 · 多层结构：针尖优化小化的减少硅衬底中光谱干扰 · 惰性气体包装延长针尖的使用寿命 · 具有特殊保护层的 Ag 针尖能够防止大气环境下氧化 在 TERS 系统，拉曼激光1聚焦到镀有金或银的针尖尖头2，选择合适的激发波长，在针尖十几纳米附近产生局域等离子体共振效应3，拉曼信号强度和局域电场成正比，增强的热点和样品接近就会大地增强样品的拉曼信号，达到 105 或者 1064。 拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统，同区域成像测试是在同一个区域内同时或者连续获得 AFM 图和拉曼成像图。 AFM 和其他的 SPM 技术如 STM， 音叉模式（正交力和剪切力）可以提供表面形貌，力学性能，热学性能，电学和磁学性能以及分子分辨率测试，另一方面共焦拉曼光谱和成像提供材料的化学信息，受到空间分辨率的限制。 HORIBA 提供一系列的测试样品包括单壁碳纳米管和氧化石墨烯，适当的分散可以做 TERS 成像。样品用来展示 AFM 的分子分辨率，通过 TERS成像展示 20 nm 的空间分辨率。 集成化软件——一个软件控制 NanoRaman的数据采集 · 集成化软件：一个软件即可控制NanoRaman 整个平台（包括单独AFM、拉曼、光致发光、同区域成像测试和 TERS） · 强大的 Labspec6 软件：集成多变量分析模块，一键完成PCA，MCR，HCA，DCA 分析 · 独有的 Spec-top 成像模式：Spec-top为特有的轻敲模式，根据设置的步进轻敲样品，这样既保留了针尖的尖锐度，也提高了 TERS 信号的放大倍数。 · Dual-spec 模式：Dual-spec 可以同时获得近场增强信号和远场拉曼信号，基于差谱的方法扣除远场拉曼信号，获得高空间分辨率的 TERS 成像图 多变量分析：全矩形扫描区域会消耗大量时间，可以在 AFM 图上选择不规则区域来做成像 · 曲线图：力曲线测试反映材料的硬度或者吸附力分布，力学常数 |
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