您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

联用系统优势：

1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。

2. inVia和SPM/AFM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

3. 得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

4. 可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息。

选择***系统：

雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有极大的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park