CPS 高精度纳米粒度分析仪
产地:美国
粒度检测方法:高速离心沉降法 分子量测量范围:NA 测量时间:典型1-3分钟 样品量范围:0.01ug Zeta 电位测量范围:NA 光信号频率:405nm 测试温度:常温 粒度测量重现性:0.5% 粒度测量范围:5nm-75um 索取资料及报价产品介绍 仪器简介: CPS高速离心式粒度分析仪目前有三种型号DC12000、DC18000和DC24000UHR,他们是目前世界上分析速度最快、分辨率最高以及最灵敏的离心沉淀式颗粒粒度分析仪。它可以分析任何粒度分布介于0.005和75微米的颗粒,提供比其他粒度分析方法好2到10倍的分辨率。最小峰值宽度可小至峰值直径的2%。 技术参数: 1.测量参数:粒度 2.测量范围:0.005-75μ 3.旋转速度:12.000 RPM, 18.000 RPM, 24.000 RPM 主要特点: 1.量测任何密度的颗粒 2.宽动态范围 3.比同类分析仪更快的分析速度 4.自动密度梯度生成器 5.使用自动给料器,可以实现无人看守操作 |
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