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CPS 高精度纳米粒度分析仪
CPS 高精度纳米粒度分析仪图片
产地:美国
粒度检测方法:高速离心沉降法
分子量测量范围:NA
测量时间:典型1-3分钟
样品量范围:0.01ug
Zeta 电位测量范围:NA
光信号频率:405nm
测试温度:常温
粒度测量重现性:0.5%
粒度测量范围:5nm-75um
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产品介绍

仪器简介:

CPS高速离心式粒度分析仪目前有三种型号DC12000、DC18000和DC24000UHR,他们是目前世界上分析速度最快、分辨率最高以及最灵敏的离心沉淀式颗粒粒度分析仪。它可以分析任何粒度分布介于0.005和75微米的颗粒,提供比其他粒度分析方法好2到10倍的分辨率。最小峰值宽度可小至峰值直径的2%。

技术参数:

1.测量参数:粒度

2.测量范围:0.005-75μ

3.旋转速度:12.000 RPM, 18.000 RPM, 24.000 RPM

主要特点:

1.量测任何密度的颗粒

2.宽动态范围

3.比同类分析仪更快的分析速度

4.自动密度梯度生成器

5.使用自动给料器,可以实现无人看守操作

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