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Temptronic TP04310 高低温测试机
Temptronic TP04310 高低温测试机图片
产地:美国
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产品介绍

inTEST TemptronicATS-545-M 高低温冲击测试

上海伯东美国 inTEST高低温冲击测试机中国总代理:TemptronicThermoStreamATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围:-80°C 至 +225°C;旋钮式控制面板,支持测试数据存储。inTESTATS-545-M 是旧款高低温测试机Temptronic TP04310和Thermonics T-2820 全新升级款!~

高低温冲击测试机TemptronicThermoStreamATS-545-M 技术参数

型号

温度范围

°C

输出

气流量

变温速率

温度

精度

温度显示分辨率

温度

传感器

远程

控制

ATS-545-M

-80 至 +225

4 至 18 scfm

1.8至 8.5 l/s

-55至 +125°C <10 s

+125至 -55°C <10 s

±1℃

±0.1℃

T型或

K型

热电偶

IEEE 488

RS232

inTEST 高低温冲击测试机功能特点

自动升降温:冷冻机(Chiller)特殊设计,制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃,有效保护环境;不需要液态氮气(LN2)或液态二氧化碳(LCO2)冷却

旋钮式控制面板

温度显示精度:±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)

过热温度保护:出厂设置温度 +230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点。

加热模式下冷冻机可切换成待机模式以减少电力消耗

大气流量输出,变温速率快,节省操作时间,热流罩提供局限性的温度测试环境,特别适合温度冲击测试;专利设计防止水气在DUT上凝结

与传统高低温测试箱温湿度测试箱对比,inTESTThermoStream高低温测试机主要优势:

1、变温速率更快

2、温控精度:±1℃

3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度

4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件

5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。

6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

温度冲击测试方法:

inTEST-Temptronic高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode

通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离,然后对 IC 循环喷射冷热气流,使IC 温度短时间发生急剧变化,从而完成温度循环和温度冲击的测试。

inTEST高低温冲击测试机ATS-545-M基本参数

尺寸 cm

款x深x高 61 X 72.4 X 108

重量kg

236

最高 cm

160

最高操作高度 cm

130.3(可选的扩展高度 188)

最低操作高度 cm

69.1(可选的扩展高度 81.3)

噪音

< 65 dBA

提供inTEST ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

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