电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

量子科学仪器贸易（北京）有限公司

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电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

产地:德国

样品台移动范围:单向 0.05 μm；双向 1 μm

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产品介绍

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。**的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的**代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在**代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。

产品特点：

+ **可以精确测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。

+ 精确的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。

+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。

+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。

主要技术参数：

+ 位置定位精度：单向 0.05 μm；双向 1 μm

+ 最大扫描区域：100 mm × 100 mm 典型值

+ 局部测量精度：5 μm（与该区域的热传导有关）

+ 信号测量精度：100 nV（采用高精度数字电压表）

+ 测量结果重复性：重复性误差优于3%

+ 塞贝克系数测量误差：< 3% (半导体)；< 5% (金属)

+ 电导率测量误差： < 4%

+ 测量速度：测量一个点的时间4-20秒

应用领域：

1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量

2、测量功能梯度材料的梯度

3、观察材料退化效应

4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移

5、固体电介质材料中的传导损耗

6、阴极材料的电导率损耗

7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化

8、样品的质量监控

系统组成部分

+ 三矢量轴定位平台及其控制器

+ 定位操纵杆

+ 加热、测温探针

+ 力学接触探测系统

+ 模拟多路器

+ 数字电压表

+ 锁相放大器

+ 摄像探测系统

+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机

+ 样品台与样品夹具

样品夹具

加热测温探针

部分测试数据

1、塞贝克系数测量

Bi₂Te_2.8₅Se_0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）

2、接触电阻测量

存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针尖位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。

接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中ΔR正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）