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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur图片
产地:日本
检测种类:总硫、总氮和卤化物
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产品介绍

主要特点:

1.以较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。

2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。

3. X光源照射面积大,分析均匀稳定

4.扣背景机构

油料中各元素间的谱线干扰,不纯物的影响,X光管一次线在样品中的散射,体累积膜的全反射现象 等都是产生背景的原因。因此,不采用扣背景机构的话,不能保证长期分析精度的准确性和稳定性。 这 也是ASTM D2662的规定要求。

5. 工作曲线可以采用一次直线式和2次曲线式。

6. 可登录30个标准物质。

7. 自动氦气置换机构

理学采用氦气置换机构,可以确保分析过程的稳定性,减少聚酯膜的消耗。

8.软件系统:

8-1.数据处理功能

8-2.样品交换

8-3.内装10种检量线

8-4.偏差校正功能。

8-5.谱峰和扣背景测试

8-6.PHA调整

8-7.漂移校正

8-8.标准样品

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