R3反射率检测光谱系统

上海复享光学股份有限公司

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R3反射率检测光谱系统

产地:上海

产品介绍

R3 反射光谱测量系统
多角度反射率光谱测量

反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　