测量镜头测试卡
产品介绍 Long Wave Infrared Test ChartLWIR 红外测试卡投射式的SFRplus测试卡能够结合Imatest SFRplus 模块来测试MTF值,横向色差,扭曲和色调响应。SFRplus模块突出完全自动的局部探测。SFRplus测试卡与普遍使用的测试卡如ISO12233测试卡,有着更多更好的优点: 1.不浪费区域空间。 2.能够在传感器表面测试出图片锐度。 3.低对比度是的测量更加准确。 4.完全支持自动检测。 采用1525px 高,2287.5px 宽, 0.3 cm 厚铝制基底,不仅适用于室内环境测试,还适用于恶劣的室外环境测试。 |
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