产地:美国
成像分辨率:14µm x 200µm 光谱分辨率:14µm x 200µm 光谱范围:200-1050nm 成像方式:二元光学元件 使用状态:地面 工作原理:其它 索取资料及报价
产品介绍 SM245高速CCD光谱仪 
特点: 1、低噪声和低的杂散光 2、灵活的光学接头可直接插入狭缝和光纤 3、应用广泛 4、高速数据采集 5、200-1050nm波长范围 6、16bit的USB 1.1/2.0界面 7、支持多达8通道配置 8、UV增强涂层 软件sm32pro Windows®95,2000,XP,7的软件(支持32bit和64bit)进行数据采集和分析 ? Transmission, reflectance, and absorbance measurements 透射、反射和吸收测量 ? Data export, zoom in and out, spectrum overlays, and many more features 数据导出、放大、缩小、频谱重叠,和许多更多的功能 ? Color analysis tools included 包含颜色分析工具 ? Signal average and integration time control 信号平均和集成时间控制 ? DLL libraries available for easy user software development in DOS and Windows® DLL库便于用户在DOS和Windows®环境下开发软件 ? VC++/VB/Labview examples available 包含VC++、VB和LabVIEW的示例
参数 | 值 | 探测器 | Sony ILX511 CCD ? 像素值: 2048 ? 传感像素尺寸: 14μm x 200μm ? 灵敏度: 1800 V/(lx s) @ 660nm ? 井深: 62,500 e- | 光谱焦距 f# | 2.7 | 暗噪声有效值 | <35 RMS counts in 16bit @35msec integration time | 信噪比 | >250: 1 | 光纤耦合 | 标准SMA905 or FC 接头 | 有效光谱范围 | 200-1050nm | 滤波片选择 | 长通滤波片或者覆盖每个波长的线性可变滤波片 | 光谱精度 | 根据选择的狭缝和光栅0.25到 10nm | 杂散光 | <0.05% at 632nm (<0.1% Ave) | 电脑界面 | USB 1.1/2.0 16 bit (0-65535) | 最小积分时间 | 1msec | 触发模式 | 自由运行模式 软件触发模式 外部触发模式 | 尺寸(英寸) | 6.0 H X 3.3 W X 1.9 D | 重量 | 1 lbs. | 软件 | SM32Pro (免费配置) 包含DLL l库和SDKs便于用户使用开发 |
SM245高速CCD光谱仪
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