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质构仪探头-食品类探头 TA/KIE
产地:
上海
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质构仪探头-食品类专用探头 TA/KIE
该装置由一个面团处理模具,一个固定装置以及一个拉钩组成。该装置可用于测量面条的断裂强度,通过探头向上移动可以测量面条的拉伸强度。
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