二次离子/溅射中性粒子质谱仪
产品介绍 MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。 ·光栅控制,增强深度分析能力·所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ·质量数范围: 300amu,500amu,1000amu ·检测器:离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器: 3F四级杆 ·杆直径: 9mm ·最高加热: 250℃ ·离子源:电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝 |
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