霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试
产地:英国
迁移率:1 至 107 cm2 / Volt-sec ( 样本依赖 ) 载流子浓度:10e7 至 1021 per cm-3 ( 样本依赖 ) 电阻率:10-4 至 109 Ω-cm ( 样本依赖 ) 最高电压:1 测试电压:1 恒流源电流范围:1 索取资料及报价产品介绍 价格电议 霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例 上海伯东某科研客户霍尔效应测试案例一 样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3 样品薄膜厚度: 60 - 100 nm 样品尺寸: 10 * 10 mm 实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS 霍尔效应测试仪
测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla * 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准. 样品 ITO1 测试结果: I-V 测量结果 VdP 测量结果 测量头类型: RT Head; 磁场: 9677G; 厚度: 80nm 部分测试结论: 1. 得到的电阻值彼此相容. 2. 所有的IV 曲线都是线性的 3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的. 4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. 若您需要了解详情,欢迎联络“伯东企业(上海)有限公司” |
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