高性能原子力显微镜hpAFM

上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器高性能原子力显微镜 hpAFM， 在最短的时间获得的无可置疑的结果.

高性能原子力显微镜优势 hpAFM

多用户设计

操作简便

快速线性扫描

10 MP 光学镜头提供干净， 没有瑕疵的视角

自动对齐和调整

高性能原子力显微镜hpAFM 系统功能

扫描

• XY 轴扫描范围: 6， 20 或 24 bit， 5， 10，40， 100 μm

• Z 轴扫描范围 16， 20 或 24 bit 2，4，6，8，12，15 μm

• 精度 0.01 nm

• 使用光学传感器对 Z 轴逐层进行线性扫描

• 真空样品架可以放 1" ， 2" 和 3" 个样品

• 脱钩的 Z 向扫描

• 可以容纳最多达 500 克样品

高性能原子力显微镜Z 轴电动平台

• 范围 50mm， 精度 250nm

XY 轴电动平台

• 范围 76 mm， 精度 50nm

AFM 模块

• RF 调制低噪声 635nm 激光器

• 25 fm√Hz (max.) noise floor

• <14 nm 探针

光学摄像

• 10MP CMOS camera

• Recording and imaging with color CMOS camera

• 光学变焦

• 0.7 μm 光学解析度

声音和振动隔离箱

• 声音， 隔热， 防震箱

• 大气控制隔热柜 (可选)

• 0.3 Hz 振动隔离台

• 可在 -30 °C 至 +350 °C 之间选择

高性能原子力显微镜标准模式

• 接触式 AFM

• 动态 AFM

• Laterol Force Microscope

• 相位成像 AFM

• 磁力显微镜 MFM

• F-d Curves and Spectroscopy 曲线和光谱

• 静电显微镜 EFM

• Non-contact AFM with 5 mHz Resolution Digital PLL

温度与扫描范围

原子力显微镜(Atomic Force Microscope， AFM)， 隶属于扫描探针显微镜 ( Scanning Probe Microscope， SPM )， 是一种具有原子级别高分辨， 高解像能力的科研仪器， 原子力显微镜可在真空， 气体或液体环境中操作， 适用于各种材料的表面检测， 形貌测量， 粗糙度分析及生医样品检测等. 与 STM 对比 AFM 原子力显微镜可以观测非导电样品， 应用范围更广.