硅片表面形貌测量 AFM

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硅片表面形貌测量 AFM

产地:英国

样品台移动范围:120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm

样品尺寸:120 × 120 × 40 μm 或 40 × 40 × 4 μm

定位检测噪声:65 fm √Hz

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英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量

上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用，某高校老师通过原子力显微镜进行硅片表面形貌测量和表面粗糙度测量，便于后续进行拉曼增强.

测试方法: 选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台，通过系统软件自动控制.

原子力显微镜测试条件

	图像参数
	品牌	英国 NanoMagnetics
	原子力显微镜型号	ezAFM
	模式	动态模式
	分辨率 ( pixels )	512 x 512
	悬臂类型	ACLA from App Nano
	Set RMS	1.0 V_RMS
	Free RMS	2.0 V_RMS

原子力显微镜 ezAFM 性能

	扫描范围	120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm
	模式	接触模式，动态力 / 相位成像模式，侧向力显微镜 LFM 和磁力显微镜 MFM 模式
	噪声基底	65 fm √Hz
	分辨率	2μm 集成光学显微镜
	全高清摄像机	390x230μm， 2516x1960， pixels， 30fps，
	样品尺寸	10 x 10 x 5mm ( 可配置为不限制样品尺寸 )

硅片表面形貌成像图

硅片表面粗糙度成像图

英国 NanoMagnetics 仪器 1998年在牛津成立，作为原子力显微镜 AFM 制造商，主营环境扫描探针显微镜SPM，低温扫描探针显微镜LT-SPM，霍尔效应测量系统等，原子力显微镜适用于产品表面特征分析，生命科学，原位成像，材料科学，薄膜等领域.广泛应用于牛津大学，斯坦福，京都大学， NASA 等学府和科研院所.